＊技術フォーラム“粒子計測技術の現状と将来”
(9:15～10:00) （座長：大畑 学）
F1-1.（技術報告）
粉体計測技術の現状と将来
－比表面積や細孔分布の測定技術に関して－
（シスメックス）森本昌文
F1-2.（技術報告）
クリプトンガスを用いた低表面積の高精度測定
（島津製作所）○道下 晃，鷲尾 一裕
F1-3.（研究報告）
in vitro試験用金属酸化物ナノ粒子分散系の評価
- 蛍光X線分析と限外ろ過法による粒子の評価-
（産業技術総合研究所）○遠藤茂寿，宮内亜里砂，堀江祐範，藤田克英，加藤晴久
(10:05～11:05) （座長：遠藤茂寿）
F1-4.（技術報告・その他）
ダスト濃度監視に関する技術及び製品紹介
（松島機械研究所）○重枝季伸，中原龍彦
F1-5.（技術報告）
気流法によるトナー・キャリア間付着強度分布の測定
（シャープ）○戸泉 潔，芝井康博，中村 雅
（京都大）松坂修二
F1-6.（問題の提起）
校正用標準粒子の粒径分布特性の
エアロゾル粒子発生法依存性
（産業技術総合研究所）○高畑圭二，榎原研正
F1-7.（研究中間報告）
インクジェット式粒子数標準エアロゾル発生器の開発
（産業技術総合研究所）○飯田健次郎，櫻井 博、 斎藤敬三，榎原研正
(11:10～11:50)（座長：竹内 和）
F1-8.（招待講演）
粒子計測の基礎 － 粒子は何個くらい測定すればよいか
（神戸学院大・京都大学名誉教授）増田弘昭
(13:15～13:55) （座長：森 康維）
F1-9.（招待講演）
粒子計測ナビゲータ （産業技術総合研究所）綾 信博
(14:00～15:00)（座長：鷲尾 一裕）
F1-10.（技術報告）
液中粒子径計測の信頼性向上のために
（産業技術総合研究所）○高橋 かより，加藤晴久、衣笠晋一
F1-11.（研究報告）
沈降天秤法による検定用粒子の粒子径測定
（広島大）Ｏ吉田英人，福井国博
F1-12.（技術資料報告）
多検体遠心沈降分析法を用いた濃厚分散系のキャラクタリゼーション
（武田コロイドテクノ・コンサルティング）武田真一
F1-13.（研究報告）
超遠心沈降法による粒子径測定時の粒子拡散の影響
（同志社大）Ｏ齋藤優子，新生恭幸，土屋活美、森 康維
(15:05～15:50)（座長：吉田英人）
F1-14.（技術資料報告）
超音波スペクトロスコピーを用いた
濃厚分散系のキャラクタリゼーション
（武田コロイドテクノ・コンサルティング）武田真一
F1-15.（技術資料報告）
粒子径測定による無機粉体の分散剤最適濃度の検討
（大塚電子）○稲山良介，中村彰一
F1-16.（研究速報）
動的光散乱法による非球形粒子測定の試み
（堀場製作所）○栩野成視，山口哲司，伊串達夫
(15:55～16:55)（座長：武田真一）
F1-17.（技術報告）
レーザ回折・散乱を利用した粒子径測定技術について
（日機装）○恩田真吾，大畑 学
F1-18.（研究報告）
粒子径測定における誘導回折格子法の測定条件の検討
（同志社大）○武知 亮，土屋活美，森 康維
（島津製作所）島岡治夫，十時慎一郎
F1-19.（技術報告）
IG法によるシングルナノ粒子の測定
（島津製作所）○十時慎一郎，島岡治夫
F1-20.（技術報告）
コールター原理(電気的検知帯法)を用いた
マイクロ･ナノバブルの測定技術
（ベックマン･コールター）楊 逸明 |
