総評会館（東京都千代田区）

＊技術フォーラム“粒子計測技術の現状と将来”

(9:15〜10:00) （座長：大畑 学）
F1-1.（技術報告）
　粉体計測技術の現状と将来
　−比表面積や細孔分布の測定技術に関して−
　（シスメックス）森本昌文
F1-2.（技術報告）
　クリプトンガスを用いた低表面積の高精度測定

　（島津製作所）○道下 晃，鷲尾 一裕
F1-3.（研究報告）
in vitro試験用金属酸化物ナノ粒子分散系の評価
- 蛍光X線分析と限外ろ過法による粒子の評価-
（産業技術総合研究所）○遠藤茂寿，宮内亜里砂，堀江祐範，藤田克英，加藤晴久

(10:05〜11:05) （座長：遠藤茂寿）
F1-4.（技術報告・その他）
　ダスト濃度監視に関する技術及び製品紹介
　（松島機械研究所）○重枝季伸，中原龍彦
F1-5.（技術報告）
　気流法によるトナー・キャリア間付着強度分布の測定
　（シャープ）○戸泉 潔，芝井康博，中村 雅
　（京都大）松坂修二
F1-6.（問題の提起）
　校正用標準粒子の粒径分布特性の
　エアロゾル粒子発生法依存性
　（産業技術総合研究所）○高畑圭二，榎原研正
F1-7.（研究中間報告）
　インクジェット式粒子数標準エアロゾル発生器の開発
　（産業技術総合研究所）○飯田健次郎，櫻井 博、 斎藤敬三，榎原研正

(11:10〜11:50)（座長：竹内 和）
F1-8.（招待講演）
　粒子計測の基礎 − 粒子は何個くらい測定すればよいか
　（神戸学院大・京都大学名誉教授）増田弘昭

(13:15〜13:55) （座長：森 康維）
F1-9.（招待講演）
　粒子計測ナビゲータ　（産業技術総合研究所）綾 信博

(14:00〜15:00)（座長：鷲尾 一裕）
F1-10.（技術報告）
　液中粒子径計測の信頼性向上のために
　（産業技術総合研究所）○高橋 かより，加藤晴久、衣笠晋一
F1-11.（研究報告）
　沈降天秤法による検定用粒子の粒子径測定
　（広島大）Ｏ吉田英人，福井国博
F1-12.（技術資料報告）
　多検体遠心沈降分析法を用いた濃厚分散系のキャラクタリゼーション
　（武田コロイドテクノ・コンサルティング）武田真一
F1-13.（研究報告）
　超遠心沈降法による粒子径測定時の粒子拡散の影響
　（同志社大）Ｏ齋藤優子，新生恭幸，土屋活美、森 康維

(15:05〜15:50)（座長：吉田英人）
F1-14.（技術資料報告）
　超音波スペクトロスコピーを用いた
　濃厚分散系のキャラクタリゼーション
　（武田コロイドテクノ・コンサルティング）武田真一
F1-15.（技術資料報告）
　粒子径測定による無機粉体の分散剤最適濃度の検討
　（大塚電子）○稲山良介，中村彰一
F1-16.（研究速報）
　動的光散乱法による非球形粒子測定の試み
　（堀場製作所）○栩野成視，山口哲司，伊串達夫

(15:55〜16:55)（座長：武田真一）
F1-17.（技術報告）
　レーザ回折・散乱を利用した粒子径測定技術について
　（日機装）○恩田真吾，大畑 学
F1-18.（研究報告）
　粒子径測定における誘導回折格子法の測定条件の検討
　（同志社大）○武知 亮，土屋活美，森 康維
　（島津製作所）島岡治夫，十時慎一郎
F1-19.（技術報告）
　IG法によるシングルナノ粒子の測定
　（島津製作所）○十時慎一郎，島岡治夫
F1-20.（技術報告）
　コールター原理(電気的検知帯法)を用いた
　マイクロ･ナノバブルの測定技術
　（ベックマン･コールター）楊　逸明

塩野義製薬株式会社　摂津新工場
（大阪府摂津市三島2丁目5−1）

摂津新固形製剤包装棟
（見学棟の紹介　摂津工場長　峰　基二）

１）塩野義の技術紹介（製剤機械技術を中心に）
塩野義製薬�轄H業技術研究所　吉田　達守
２）医薬品ナノ微粒子の調製と物性評価」
千葉大学教授　山本　恵司

幕張メッセ 国際会議場 301 会議室

詳細はこちらから

福寿園CHA研究センター　
(紹介：福寿園CHA研究センター長　植村則大)

CHA研究センターにおける技術開発
福寿園CHA研究ｾﾝﾀｰ　顧問　農学博士　早川　潔

基調講演、調査報告、パネルディスカッション、
製品紹介、

詳細はこちらから
　　　　▲　プログラム
（ナノ粒子の安全性と評価技術シンポジウム）

各社技術・製品に関する紹介：

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（発表会社10社　13件）

各社技術・製品に関する紹介
−ハードウエア、新技術、アプリケーションの紹介−
発表会社：（株）島津製作所、シスメックス（株）、（株）ユアサアイオニックス、 三協バイオテックス（株）、（株）セイシン企業、スペクトリス（株）、 （株）堀場製作所、日機装（株）
以上7社　発表13件